Pas
uw vermelding aan
Via de link 'Pas uw vermelding aan' kunt u de bestaande profielgegevens van uw bedrijf aanpassen.
U krijgt toegang door u in te loggen met het opgegeven emailadres en uw wachtwoord.
Indien deze niet bij u bekend zijn, kunt u dit bij ons opvragen. Neem hiervoor contact op met
orders.engineering@mybusinessmedia.nl Telefoonnummer: 0570 504 352
Micro-Epsilon is een wereldwijde specialist in precisiesensoren en meetsystemen. Al meer dan 50 jaar levert Micro-Epsilon oplossingen voor het meten van afmetingen, afstand, temperatuur en kleur.
Micro-Epsilon meetsystemen worden geïntegreerd in productielijnen om volledig geautomatiseerde kwaliteitscontroletoepassingen uit te voeren, zoals dikte- en profielmeting. Het hele systeem, inclusief sensoren, software en mechanica, wordt door Micro-Epsilon geproduceerd.
Het productgamma omvat inductieve, confocale chromatische en capacitieve sensoren, samen met laser-, wervelstroom-, trekdraad- en temperatuursensoren, inclusief inspectie- en meetsystemen, bijvoorbeeld voor moderne 3D-oppervlakte-inspectie. De sensoren van Micro-Epsilon helpen middelen te besparen, productieprocessen te automatiseren en een hoge kwaliteit in productieprocessen te verzekeren.
Categorieën (5): beeldverwerking, testen & meten meer
Smederijstraat 2
4814 DB Breda
Nederland
Tel. 0162-510400
Mobiel 06-23195348
www.micro-epsilon.com
patrick.aarts@micro-epsilon.de
De ScanControl 30xx laserprofielscanner met blauw laserlicht zijn verkrijgbaar met meetbereiken van 25 en 50 mm (langs de X-as van de laserstraal). Ze voorzien in gekalibreerde 2D-profielmetingen op basis van ongeveer 5,5 miljoen punten per seconde en genereren zo maximaal 2048 meetpunten per profiel. lees verder
De IF2008PCIe-interfacekaart, die ontworpen is voor aansluiting op pc's met PCI Express-slots, maakt de synchrone data-acquisitie van vier digitale sensorsignalen en twee encoders mogelijk. Dit is belangrijk voor metingen van vlakheid en dikte. lees verder
De confocale chromatische confocale confocalDT IFS2404-2 sensor wordt gebruikt voor zeer nauwkeurige afstand- en diktemetingen van transparante materialen. lees verder
