5 nov. 2012
1 minuut
“Na 200 nanoseconde stop ik met denken”, zei Gijs de Raad. Niet om aan te geven dat hij heeft te kampen met een serieus concentratieprobleem, maar om het domein af te bakenen waarbinnen hij als ESD-ingenieur bij NXP actief is. Hij houdt zich bezig met het ESD-ontwerp van de chips van NXP en in die chips verandert 200 nanoseconde teveel stroom een diode in een gesmolten diode.
ESD-design is het zoeken naar een pad voor ESD-pulsen waarlangs ze geen schade kunnen aanrichten. Dat is, door de diversiteit aan chips bij NXP, vaak maatwerk. Er is maar één manier om dat goed te doen, zegt Gijs: kén en begrijp tot op fysisch niveau het gedrag van je beschermingscomponenten en het circuit. En daar ben je gewoonlijk toch wel langer dan 200 nanoseconde mee bezig.
De Raad was een van de sprekers op het jaarlijkse seminar EMC-ESD in de Praktijk. Zo’n 150 specialisten waren te gast op de Hogeschool van Amsterdam, om met vakgenoten te spreken over het bestrijden van elektromagnetische storingen. En dat is nog steeds nodig: voorbeelden van defecte of haperende systemen zijn talrijk. Net als EMC-consultants die tot over hun oren in het werk zitten, trouwens.
"Het is jammer dat de lichtsnelheid maar driehonderdduizend kilometer per seconde is en niet driehonderd miljoen", vond de Belgische EMC-professor Johan Catrysse, "want dan zaten onze achterkleinkinderen pas met al die problemen". Catrysse schetste het begrip EMC in historisch perspectief en liet zien dat de eerste afschermingsmetingen al in 1877 werden uitgevoerd en dat de eerste EMC-richtlijn stamt uit 1892, ondertekend door keizer Wilhelm. EMC is dus niets nieuws, maar het verandert constant, zegt Catrysse. Want niet alleen hebben we te maken met steeds meer gevoelige elektronica; ook het aantal ‘bedreigingen’ neemt toe. Gelukkig is de meettechniek meeveranderd, zodat we nu inderdaad kunnen observeren wat er binnen een tijdsbestek van 200 nanoseconde gebeurt. Maar daar ging wel 135 jaar nadenken aan vooraf.
Henk de Vries