EO

Geld voor HT-AFM systeem Nearfield

14 september 2017 om 12:58 uur -

Geld voor HT-AFM systeem Nearfield

TNO spin-off Nearfield Instruments in Delft heeft twee investeerders gevonden. Het kan nu starten met de ontwikkeling van zijn eerste ultra snelle high-throughput Atomic Force Microscopy (HT-AFM) systeem voor metrologie van geavanceerde IC's. Hiermee kan bestaande AFM tot duizend keer sneller worden gemaakt dan voorheen.

Samsung Venture Investment Corporation en Innovation Industries, een Nederlands investeringsfonds voor hightech innovaties in Nederland, investeren samen 10 miljoen euro. TNO blijft aandeelhouder.


De wereld vraagt om steeds weer krachtiger en energiezuiniger elektronica voor mobiele apparaten en computersystemen. Om nieuwe functionaliteiten mogelijk te maken en om optimaal gebruik te maken van de beschikbare ruimte op de wafer, zullen IC's met behulp van nieuwe, gevoelige materialen kleiner worden naar afmetingen op atomaire schaal en tegelijkertijd in een volledige driedimensionale configuratie worden ontworpen. Om deze trends op technologisch en economisch haalbare wijze tegemoet te komen, zijn doorbraken in metrologieprocessen en apparatuur voor IC ontwikkeling en productie noodzakelijk. Zonder deze doorbraken zou de Wet van Moore tot een einde komen. De Wet van Moore is de observatie dat het aantal transistors in IC's ongeveer elke twee jaar verdubbelt.


Atomic Force Microscopy (AFM) is een bekende technologie en wordt vaak toegepast in onderzoek. Een AFM-systeem maakt gebruik van een atoomscherpe tip om het oppervlak van het onderzochte monster te scannen, zonder het aan te raken, om het patroon erop te herkennen. AFM werd echter altijd te langzaam beschouwd voor industriële toepassingen. Vijf jaar geleden startte TNO het NOMI (Nano Opto-Mechatronics Instrumentation) programma waarin wetenschappelijk onderzoek gecombineerd wordt met toepassingsknowhow . Dit heeft geleid tot meerdere verbeteringen van deze technologie, waardoor de AFM tot 1000x sneller kan worden gemaakt dan de traditionele AFM -technologie. Dit maakt de AFM-oplossing van Nearfield Instruments van groot belang voor de halfgeleiderindustrie.

 

Gerelateerd nieuws

Autopilot Tesla toch niet vrijuit bij dodelijk ongeval

Autopilot Tesla toch niet vrijuit bij dodelijk ongeval

De Autopilot van Tesla is niet geheel vrij te pleiten bij een ongeval waarbij een Amerikaan in mei 2016 om het leven kwam in Florida.

Gebruikt toiletpapier omzetten in elektriciteit

Gebruikt wc-papier voor duurzame energie

Scheikundigen van het onderzoekszwaartepunt Sustainable Chemistry van de Universiteit van Amsterdam (UvA) hebben samen met collega's van het Copernicus Institute of Sustainable Development van de Universiteit…

Topsectoren adviseren nationale aanpak rondom elektrochemische conversie en materialen

Topsectoren adviseren nationale aanpak rondom elektrochemische conversie en materialen

Om met behulp van Elektrochemische Conversie & Materialen (ECCM) de transitie naar een duurzaam energie- en grondstofsysteem te versnellen, is een nationale meerjarige aanpak nodig. Dat stellen de Topsectoren Energie…

Gratis nieuwsbrief

EOL

 

Focus op

ABB BV
ABB BV

Machineveiligheid, systemen en componenten

B&R Industriële Automatisering BV
B&R Industriële Automatisering BV

Perfection in Automation

Pilz Nederland
Pilz Nederland

Voor industriële (veilige) automatiseringsoplossingen

Rotero Holland BV
Rotero Holland BV

Stappenmotor - Servomotor - Elektro Magneet

Product van de maand

RSS
Smartcollect energie- en PQ-managementsoftware

Doorbraak in energiemanagement: één softwarepakket voor het verzamelen van energiegegevens zoals energie, gas, water,...

Download gratis engineering boeken

A gratis boeken downloaden

 

Agenda

26 september 2017, Vianen

Masterclass Machineveiligheid

Training bij Pilz. Trainingsdagen: 26, 27 september en 3, 4 oktober 2017

26 september 2017, Gorinchem

IMC Test & Measurement Days

Gratis seminars

27 september 2017, Amsterdam, RAI

Future of Obsolence Conferentie

Netwerkevent en conventie

Meer agendapunten »