EMC Automotive Event

Op het evenement, dat plaatsvindt bij Dare in Woerden, geven experts uit de praktijk presentaties over belangrijke onderwerpen met betrekking tot elektronica en EMC in automotive. Daarnaast wordt een informatiemarkt ingericht waar organisaties en marktpartijen hun producten en diensten presenteren.

 

Programma

8.30 u: Ontvangst

9.00 u: Welkom (René Dijkstra, Dare)

9.10 u: Inleiding E-Markering (René Dijkstra, Dare)

Het systeem van E-markering wijkt aanzienlijk af van het systeem van CE-markering. René Dijkstra gaat in op de eisen voor automotive en het certificatieproces en hoe dit het beste aangepakt kan worden. Verder kent de E-markering een aantal aanvullende eisen. Ook de verschillen tussen complete voertuigtesten en Elektrische Sub Eenheden worden besproken.

9.30 u: Inleiding EMC voor automotive, (Patrick Dijkstra, Dare)

Automotive EMC-testen behoren tot de strengste in de industrie. Daarnaast wijken de testen aanzienlijk af van de EMC-testen voor CE-markering. In zijn presentatie gaat Patrick Dijkstra in op de automotive EMC-testen en waar rekening mee gehouden moet worden.

10.30 u: Pauze

10.45 u: Typegoedkeuring: Waar krijgt een fabrikant mee te maken? (Arjan Schuitman, RDW)

Arjan Schuitman gaat in op de aspecten die komen kijken bij het certificeren van producten door fabrikanten via de technische diensten, zoals Dare, en de waarborging van de overeenstemming van de productie.

11.15 u: Measurement and analysis of CAN bus and other automotive related serial busses (Engels), (Francesco Raimondi, Teledyne LeCroy)

Francesco Raimondi demonstreert hoe een moderne digitale geheugenoscilloscoop wordt gebruikt, niet alleen om communicatiesignalen te visualiseren, maar ook om ze te analyseren en debuggen. Door het combineren van geavanceerde trigger- en decodeer-mogelijkheden met krachtige postprocessing is het mogelijk trends te volgen in numerieke waarden in de datacommunicatie, afwijkingen te isoleren, relaties te leggen tussen analoge verschijnselen en digitale data en statistische analyses uit te voeren.

11.45 u: Big-analog-data: Hoe neemt u beslissingen op basis van uw meetgegevens? (William Baars, National Instruments)

Het vergaren van de juiste meetgegevens is van kritiek belang. Dataloggers kunnen alsmaar sneller en nauwkeuriger meten, maar het analyseren, opslaan en delen van grote hoeveelheden gegevens laat vaak te wensen over en is een grote uitdaging. William Baars gaat in op het in-vehicle loggen van analoge en digitale data, afkomstig van sensoren of automotive bussystemen. Na het opslaan is het zaak op een efficiënte manier deze gegevens te verwerken en te kunnen doorzoeken op trends, afwijkingen of te vergelijken met andere testruns.

12.05 u: Resultaten E-mobility – Project Enovate, (Edwin Bestebreurtje, FIER Automotive)

Edwin Bestebreurtje spreekt over E-mobility en de rol die het project Enovate hierin speelt. Het is een Europees project met als doel het gebruik van elektrische voertuigen te stimuleren. Bestebreurtje laat de resultaten van de diverse deelprojecten zien.

12.25 u: Lunch

13.15 u: Signal integrity and compliance analysis of high speed automotive serial links (Engels), (Francesco Raimondi, Teledyne LeCroy)

In hedendaagse automotive-toepassingen neemt de hoeveelheid data die moet worden overgedragen tussen de onboard systemen in hoog tempo toe. Om te kunnen omgaan met deze trend worden snelle seriële bussen, zoals BroadR-Reach en USB in de auto geïntroduceerd. Deze bussen vereisen ook specifieke kwalitatief goede verbindingen die de bandbreedte van de data kunnen verwerken. Francesco Raimondi demonstreert een speciale tool die eenvoudig de s-parameters kan afleiden van een seriële verbinding of een passieve component en die ook kan worden gebruikt om de invloed ervan op signaalintegriteit te simuleren. Om de signalen in te vangen wordt een high-speed oscilloscoop gebruikt en uiteindelijk kan een compliance-test worden uitgevoerd.

14.00 u: Aansprakelijkheid bij de ontwikkeling van automotive componenten, (Michael Gerrits, Van Diepen Van der Kroef)

In deze presentatie gaat Michael Gerrits in op het toeleveren van componenten (ESE) aan OEM’s en de risico’s die dit met zich meebrengt.

14.45 u: Pauze

15.00 u: Hoe EMC problemen in automotive te voorkomen? (Patrick Dijkstra, Dare)

Patrick Dijkstra belicht de eisen, regelgeving en testen voor EMC automotive. Wat te doen bij het ontwikkelen van elektronica voor voertuigen? Spaar geld door een juiste aanpak en een goede balans tussen kosten en EMC-maatregelen. Hoe voorkom ik EMC problemen en hoe kan aan de strenge eisen voor automotive worden voldaan?

16.30 u: Afsluiting, aansluitend borrel en rondleidingen

Het evenement op 13 en 14 november is – na aanmelding – gratis toegankelijk (inclusief lunch) en vindt plaats bij Dare, Vijzelmolenlaan 7, 3447 GX Woerden.

Kijk voor meer informatie en registratie op http://www.emc-automotive-event.nl/